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 关键应用存储技术学术讲座顺利召开

2015-05-26 09:54:55


5月26日,高效能服务器和存储技术国家重点实验室(以下简称“实验室”)组织的“关键应用存储技术”学术讲座顺利召开。本次会议以解决实验室在存储研发方向的技术瓶颈,促进实验室产学研合作交流为目的,特邀国防科学技术大学肖侬教授、清华大学舒继武教授、国家电子计算机质量监督检验中心罗洪元主任等业内知名技术专家作精彩演讲。存储研发部负责人文中领率实验室各学部研究员参加了会议,同时参会的还有江南所、山大等科研院所的各位老师,共计约130人。

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【主会场全景】
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【分会场全景】

会上,基于对关键应用的存储技术的研究,各位专家在不同角度进行了阐述。为解决计算机系统中越来越严重的I/O挑战性问题,肖侬教授对比了以NVRAM为代表的多种存储介质的特点,并以Facebook、天河系列产品为例阐述了记忆阻等方面的技术应用。舒继武教授以闪存为重点介绍了非易失性存储器的发展情况,并从主存和外存级别分析了其对存储系统构建的影响。罗洪元主任则从测试环节入手,强调过程质量控制理念,通过具体事例剖析了如何有针对性的提高存储系统的数据一致性及系统可靠性,并为实验室在存储研发、测试和系统建设方面提出了工作建议。

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【专家演讲】
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【提问环节】

会议期间,文中领向各位专家详细介绍了实验室在关键应用存储方面所开展的研究工作及研究成果,并就系统能耗等级、可靠性设计、测试环境搭建等研发过程中遇到的问题与专家进行了交流。实验室的工作及取得的成绩得到了与会专家的肯定,专家表示,希望实验室继续在应用基础研究方面加大力度,搭建完善存储研发及测试平台,积极建立一致性测试标准,为行业提供成熟实用的工具和系统,并在技术成果转化方面发挥积极作用,进一步推动存储行业的新发展。

本次讲座的成功举办,切实满足了实验室在存储方面的研发需求,为研发人员提供学习交流机会,加强了实验室与各科研院所的联系,扩大了实验室在学术领域的声誉度和影响力,为进一步推动产学研合作奠定了基础。

 

 

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